在當前的RFID市場中, 選擇與RFID應用程序兼容的RAIN讀寫器通常是一個令人精疲力盡的 "反覆試驗" 過程。花了幾天的時間來了解讀寫器的靈敏度, 並經常用標籤來衡量。在大多數情況下, 唯一考慮的參數是讀取器的發射功率。此選擇過程非常耗時, 不可重複, 並且容易出錯，這些數據的準確性也可能有所不同。

CISC RFID Xplorer--我們的高精度RFID測試儀器 (用於測量RAIN標籤、讀取器和應用的性能和規範性) 最近在讀寫器測試方面推出了新功能。我們的系統配備了內置的標籤仿真器, 它可以準確地測量標籤的發射功率, 並記錄各種讀寫器設置, 並根據不同的影響因素 (如相移和反向鏈路) 確定讀寫器的靈敏度頻率 (BLF)。

另外這個RFID Xplorer可以:

· 用於測試RAIN讀寫器的性能及規範性

· 用於在研發階段驗證和開發讀寫器芯片

· 用於分析RAIN標籤和RAIN讀寫器之間的通信來調試應用設置

· 集成到生產線用於驗證生產過程中RAIN讀寫器的性能

Xplorer現在可以測試所有標籤響應事件的信號相位對RAIN讀寫器靈敏度的影響，Xplorer通過其相位掃描測量功能, 可以根據接收到的信號的相位清楚地評估讀取器靈敏度的變化。