原標題：xps常規就可以測出元素含量嗎?

經常有同學XPS測試都做過好幾次了，但是對XPS還不是很瞭解，今天鑠思百檢測小編對XPS相關問題進行的整理，希望能到你們！

1、xps常規就可以測出元素含量嗎?

除了氫氦元素，其他的元素都可以進行分析;先進行寬掃，確定樣品有何種元素，再對該元素進行窄掃。該元素的不同鍵接方式都對應不同的峯，所以對元素窄掃的峯要進行分峯(分峯之前要進行調整基線)。如何分峯，不同的鍵接方式會對應不同的結合能。

2、塊體金屬在制樣時怎麼操作才能保證表面清潔且沒有影響？

答：塊體金屬樣測試老師收到後如果尺寸合適是可以直接測試的，同學需要注意包裝郵寄的時候不要污染樣品表面。

3、鋁基底上鍍了3層薄膜，總厚度200nm，最外層是40nm。XPS測試，測得是最外表層的成分。eds測試，會測到所有層和基底的元素成分。Xrd也是測到所有層和基底的元素成分？

答：XPS測試，測得是最外表層的成分1-10nm

eds測試，會測到所有層和基底的元素成分,um

Xrd也是測到所有層和基底的元素成分um

4、粉末礦物樣品，表面吸附的某種元素較少，數據出來散點圖不集中，礦物裏面含量較多，這個是否可以通過深度剖析來改善？

答：如果是想表達樣品元素在表面的分別含量少，體相多的話，想讓測試的數據含量增加，數據圖譜質量更好的話，可以藉助深度剖析來改善。

5、納米顆粒粉末催化劑，做離子濺射測試內部成分信息，能保證每一個納米顆粒的深度是方向和深度是一致的？

答：這個針對XPS設備目前的技術是做不到的。

6、做塊體合金材料的表面和內部的元素測定時用XPS和XRD哪個更好？XPS最深可以測試金屬從上往下多深的高度範圍的樣品？

答：塊體合金材料的表面用XPS和內部的元素測定用XRD，XPS最深可以測試金屬從上往下多深的高度範圍的樣品，一般是納米到微亞米級。

7、判斷震級峯和能量損失峯都是通過數據庫對比來判斷是嗎?

答：可以的。

8、xps測試爲什麼會有碳污染

XPS是用碳定位的，每個xps圖中專門加進去碳，以碳峯的位置來定位，以便衡量其它金屬的價態。

8、怎麼區分震級峯和能量損失峯？

答：在光電發射中，由於內殼層形成空位，原子中心電位發生突然變化將引起價帶層電子的躍遷。

震激：價帶電子向未佔有電子軌道躍遷（也就是嚮導帶躍遷）

震離：價帶電子向真空能級躍遷，變成自由電子，造成的能量消耗和損失（對應的光電子能量下降，結合能在高位），但震離不明顯（需要損失更高能量才能發生）；

通常過渡金屬氧化物、稀土元素都有比較特徵的震激譜峯，對研究分子結構有價值。

能量損失峯

對於某些材料，光電子在離開樣品表面的過程中，可能與表面的其它電子相互作用而損失一定的能量， 而在XPS低動能側出現一些伴峯，即能量損失峯

任何具有足夠能量的電子通過固體時，可以引起固體導帶中自由電子的集體振盪。因材料的不同，這種集體振盪的特徵頻率也不同，故而所需要的激發能亦因之而異。體相 等離子體激元震盪基頻爲wb，其能量損失是量子化的(ħwb)。如受到 多次損失，在譜圖上將呈現一系列等間距的峯，強度逐漸減弱。

9、請問如果要確定材料中錳的價態，是不是測3s更好？

答：建議測試3s和2p輔助判斷化學態。

10、不同樣品同一個元素的xps峯的位置有可能有差異嗎？

根據氧化態的不同會有差異

11、xps每種元素的分峯面積有什麼物理意義

答：Xps的表面積只代表表面的元素相對含量,用來定量意義不是很大,主要是分析元素價態.

12、xps怎麼算元素比例

答：光譜譜峯強度與該能級上的電子數目成正比，與該能級電子的光電離界面成正比（有表格可查），與樣品中該類原子的濃度成正比。我們是擬合後用擬合的譜峯面積來處理的。

13、xps可以定量測定元素不同價態含量嗎

答：可以，但是定量是半定量。XPS只能對錶面上元素價態分析，及其表面的含量。價態及其元素所處環境都會對其結合能有影響。

14、樣品中沒有碳，xps測試能測出碳含量嗎

答：XPS測試每個樣品中都會有碳。

15、磁性材料爲什麼不能做xps

答：磁性樣品自身的磁場會干擾光電子的運動軌跡。如果具有磁性的話，會影響測試的結果！要先做消磁處理。消磁後會用特殊模式測試，相對普通測試信號會弱一點

16、XPS爲什麼不能檢測H和He？

①H和He的只有價電子，沒有內層電子，內層電子有原子特徵 ，H和He只有分子特徵，沒有原子特徵，XPS沒法判別。

②H和He的光電離截面小，信號弱

17、XPS測試原理是什麼?

XPS測試原理就是藉由光電效應，當X光照射至樣品內部時，原子內層的電子將被激發產生光電子，而只有靠近材料表面的光電子才能逃離被儀器測得。藉由分析此光電子，可得知表面元素組成種類，進而判斷化學鏈結。

18、怎麼利用XPS得出元素含量現有Ag和Cl元素的XPS分析結果，怎麼利用這個結果計算兩個元素的含量？

現知道要利用公式：n1/n2=(I1/S1)/(I2/S2)，其中峯面積怎麼積分？Ag分峯之後有四個小峯，是利用哪個峯的積分面積呢？

應該先專用軟件先分峯擬合，再換算成質量濃度，根據峯面積的比例 來計算含量比 如果一個元素有兩個峯的話，就峯面積加合

還要考慮靈敏度因子，才能得到原子比。

XPS是半定量的，不能得到絕對含量。

如果你已經做完了XPS測試，一般測試實驗室有XPS專業軟件可以計算兩者的相對含量。其原理是依據元素特徵峯峯面積與對應原子靈敏度因子之比作歸一化處理計算可得。

19、怎麼確定XPS鐵元素價態和含量

怎麼確定XPS鐵元素價態和含量你可以查文獻，二價鐵和三價鐵的絡合能有差異。如果只有一個峯，用軟件分峯，面積比值就是兩種價態鐵相對含量比

20、處理樣品是需要砂紙打磨表面至納米層，後續進行不同深度的離子刻蝕，請問老師砂紙會污染樣品表面嗎？

答：砂紙打磨樣品會有部分污染物進入樣品表面的現象，所以測試的時候可以用離子刻蝕稍微清潔下，大部分的樣品可以直接測試。

21、XPS譜圖中有哪些重要的譜線結構?

XPS譜圖一般包括光電子譜線、衛星峯（伴峯)、俄歇電子譜線、自旋-軌道分裂(SOS)等。

以上就是部分問題的整理，接下來還有XPS相關問題整理，敬請關注哦！