三星最近開發了一種可以檢測NAND芯片故障的技術，該技術可以提升SSD的壽命和可靠性，並且宣佈將在即將發佈的PCIe 4.0 SSD產品中使用，三星計劃先在數據中心中使用，隨後會考慮過渡到消費級產品當中。

該技術叫做FIP（Fail in place）故障定位技術，可以檢測到SSD上的故障NAND芯片，通過這個操作避免SSD報廢。該技術可以在某塊NAND壞掉的時候把這塊NAND廢除掉，而不用直接扔掉整塊盤，雖然盤的整體容量小了，但總比整塊盤全廢了要好。

FIP會掃描存儲設備的故障區域，然後把壞的部分存儲的數據片放到別正常的地方，這一過程是自動完成的，這是一種內嵌到SSD裏的數據恢復方案。

FIP作爲芯片級的數據恢復方案，外媒將其稱之爲不死SSD。

通常來說，磁盤損壞的概率大概大概是成百上千個就有一個，壞了之後只能扔，需要花錢買新的不說，還會引起宕機。

它的實用性如何呢？

這一技術方案在普通幾百GB的SSD上價值不是特別大，但是如果在有512塊NAND的30TB超大個兒SSD上，這技術就非常有價值了，一旦NAND芯片壞掉了，FIP會自動在芯片級啓動糾錯的算法。

這樣的糾錯算法會不會帶來性能損耗呢？

三星表示，不存在的，性能會很穩定。

Samsung PM1733 SSD

截至目前，FIP技術只出現在三星數據中心裏的兩款PCIe 4.0 SSD：PM1733和PM1735。其中，PM1735的順序性能是SATA SSD的14倍。